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紫外可見分光光度計(jì)波長標(biāo)準(zhǔn)解析

更新時(shí)間:2021-02-24   點(diǎn)擊次數(shù):3440次

紫外可見分光光度計(jì)作為一種常見的分析儀器廣泛地應(yīng)用在制藥、環(huán)保等行業(yè),成為化學(xué)分析中的重要工具。無論是物質(zhì)的定性分析,還是定量分析,此類儀器的波長準(zhǔn)確與否直接影響到結(jié)論的準(zhǔn)確。在儀器的運(yùn)輸和搬動(dòng)過程中,內(nèi)置的分色濾光片和波長調(diào)整裝置均有可能會(huì)發(fā)生位置變動(dòng),導(dǎo)致波長偏移,因此、分光光度計(jì)波長檢定很有必要。JJG178—2007《紫外、可見、近紅外分光光度計(jì)檢定規(guī)程》對(duì)標(biāo)準(zhǔn)器的選擇有具體的要求。
依據(jù)JJG178—2007分光光度計(jì)工作波長的劃分為3段,分別是A段(紫外光區(qū)),范圍為190~340nm;B段(可見光區(qū)段),范圍為40~900nm;C段(近紅外光區(qū)),范圍為900~2600nm,分光光度計(jì)工作波長計(jì)量性能要求見表1。


目前,可獲得的檢定波長用標(biāo)準(zhǔn)器、根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)器選型的三分之一原則確定的適用范圍見表20通過表1、表2可知,如果要使用上述濾波片檢定更高級(jí)別的儀器,需選擇更高能力的機(jī)構(gòu)標(biāo)定濾光片,以減小標(biāo)定數(shù)據(jù)的不確定度。事實(shí)上、濾光片的檢定均使用I級(jí)可見紫外分光光度計(jì),而I級(jí)可見紫外分光光度計(jì)的MPE=土0.3(A段)、MPE=±0.5(B段)。另外,受濾光片波長帶寬較寬的限制,期待減小標(biāo)定數(shù)據(jù)的不確定度來提升檢定能力并不可行。要想提高檢測(cè)能力,只能采用不確定度值更小的氧化鈥溶液波長標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。
目前,可獲得的檢定波長用標(biāo)準(zhǔn)溶液有以下兩種,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)器選型的三分之一原則確定適用范圍見表3。


檢定波長用標(biāo)準(zhǔn)器的選擇須考慮待選標(biāo)準(zhǔn)器的峰值的分布范圍、標(biāo)定數(shù)據(jù)的不確定度,以此確定能檢定分光光度計(jì)的級(jí)別。JJG178—2007《紫外、可見、近紅外分光光度計(jì)檢定規(guī)程》對(duì)波長標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的選擇已有具體的規(guī)定,現(xiàn)就從實(shí)際工作中的情況和可操作性方面分析檢定波長用標(biāo)準(zhǔn)器的選擇。
介質(zhì)膜干涉濾光片光譜為單峰波形適合檢定手動(dòng)調(diào)節(jié)波長的分光光度計(jì),錯(cuò)放濾波片、氧化鈥濾波片光譜均為多峰波形適合檢定自動(dòng)掃描波長的分光光度計(jì)。在實(shí)際工作中、可見分光光度計(jì)都是手動(dòng)調(diào)節(jié)波長,且等級(jí)均為III、IV,紫外-可見分光光度計(jì)手動(dòng)調(diào)節(jié)波長、自動(dòng)掃描波長兩種方式都存在。因此、檢定可見分光光度計(jì)時(shí),使用介質(zhì)膜干涉濾光片佳,使用錯(cuò)錢濾波片可操作性較差。檢定手動(dòng)調(diào)節(jié)波長紫外-可見分光光度計(jì)時(shí),可使用介質(zhì)膜干涉濾光片檢定B段,氧化鈥濾波片檢定A段,不考慮操作性差這一因素,也可以只使用氧化鈥濾波片檢定A段、B段。檢定自動(dòng)掃描波長紫外-可見分光光度計(jì)時(shí),同時(shí)使用氧化鈥濾波片、錯(cuò)錢濾波片可測(cè)得240~820nm范圍內(nèi)的峰值點(diǎn),彌補(bǔ)了單獨(dú)使用氧化鈥濾波片只能測(cè)得240~640nm范圍的峰值點(diǎn),所測(cè)波長范圍較短的缺陷,比較符合JJG178-2007中要求每隔100nm至少選擇一個(gè)波長檢定點(diǎn)的要求。


另外、在選擇介質(zhì)膜干涉濾光片時(shí),需注意波長半寬小于lOnm、峰值透射比大于50%。介質(zhì)膜干涉濾光片的性能指標(biāo)隨著時(shí)間會(huì)變差,波長半寬變長、峰值透射比變低。氧化鈥溶液波長標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)光錯(cuò)為多峰譜圖,雖然可以用于各個(gè)級(jí)別的可見紫外分光光度計(jì)檢定,但從經(jīng)濟(jì)和可操作性角度考慮,一般用于i、n級(jí)的紫外-可見分光光度計(jì)檢定。